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X光繞射實驗室
實驗室名稱 : X光繞射實驗室
參與教授 : 蔡定侃
協同參與教授 : 方昭訓
設備 :
名稱 數量 金額 購買日期
X光單晶繞射儀 0 0.00
研究方向 : X光於1895年由德國物理學家Rontgen所發現,X光的發現對人類科技、工業及醫藥的發展有相當重要的貢獻。由於X光的發現與研究,奠立了今日相關科技的發展基礎,尤其對材料科技的研究發展更是影響深遠。X光繞射分析是解析材料晶體結構最有效的工具之一,應用於相鑑定、相之組成分析、殘留應力分析、texture測定分析和晶粒粒度量測,近年來利用低角度X光入射法(grazing incidence),明顯增強薄膜的繞射訊號,逐漸成為薄膜分析的一項利器。

本實驗室提供教學訓練,讓學生熟悉利用X光繞射分析進行相鑑定及組成含量分析。提供教師研究及相關實驗分析。
參考連結 : http://nfusparc.nfu.edu.tw/ezfiles/34/1034/img/349/786792506.doc